Kychak V, Myhalvskyy D, Krypskyy O. NOISE MODEL OF FET FOR FORECASTING THEIR RELIABILITY ON LEVEL OF LF NOISE. SWVNTU [інтернет]. 01, Грудень 2015 [цит. за 20, Червень 2026];(4). доступний у: https://works.vntu.edu.ua/index.php/works/article/view/189