Kychak, Vasyl, Dmytro Myhalvskyy, і Oleg Krypskyy. «NOISE MODEL OF FET FOR FORECASTING THEIR RELIABILITY ON LEVEL OF LF NOISE». Scientific Works of Vinnytsia National Technical University, no. 4 (Грудень 1, 2015). дата звернення Липень 2, 2026. https://works.vntu.edu.ua/index.php/works/article/view/189.