Kychak, V., Myhalvskyy, D. і Krypskyy, O. (2015) «NOISE MODEL OF FET FOR FORECASTING THEIR RELIABILITY ON LEVEL OF LF NOISE», Scientific Works of Vinnytsia National Technical University, (4). доступний у: https://works.vntu.edu.ua/index.php/works/article/view/189 (дата звернення: 20Червень2026).